Methodenspektrum

Elektronenmikroskopische Methoden  

  • Transmissions-Elektronenmikroskopie [Philips CM120 mit Gatan MSC 794] 
  • Elektronen-Tomographie [FEI Tecnai G20 mit Olympus Veleta und FEI Eagle 4k]  
  • Raster-Elektronenmikroskopie [Philips XL30ESEM mit Point Electronic DISS5]  
  • Environmental Raster-Elektronenmikroskopie (ESEM) [Philips XL30ESEM]  
  • korrelative Licht- und Elektronenmikroskopie 

Lichtmikroskopische Methoden  

  • Zeitraffer-Mikroskopie [Nikon Biostation IM]  
  • konfokale Laser-Rastermikroskopie [Nikon C2 plus, Zeiss LSM510 META FCS]  
  • Totalreflexions-Fluoreszenzmikroskopie (TIRFM) [Nikon Ti TIRF] 
  • Stochastische Optische Rekonstruktions-Mikroskopie (STORM) [Nikon N-STORM]  
  • Hochauflösende Differential-Interferenzkontrast Mikroskopie [Nikon Eclipse Ti]  
  • Auflicht-Differential-Interferenzkontrast Mikroskopie [Nikon AZ100]  
  • Apodisierter Phasenkontrast [Nikon Eclipse Ti]  
  • Dunkelfeld-Mikroskopie  [Nikon Eclipse Ti]  
  • (konfokale) High Content Fluoreszenzmikroskopie [BD Pathway 855] 

Präparationsmethoden  

  • Hochdruck-Gefrieren  [BalTec HPM010], Tieftemperatur-Substitution [Leica AFS]  
  • (Kryo-) Ultramikrotomie [Leica UC7/FC7, Ultracut UCT]  
  • Hochvakuumbedampfung / Gefrierätzung / Replika-Technik [BalTec BAF060]  
  • Kritisch-Punkt-Trocknung [Polaron E3000]  
  • Sputter-Beschichtung  [Quorum Q150R ES]  
  • Vibratom [Leica VT1200S]  
  • Mikrobiopsie-Technik [Eigenentwicklung]  
  • in situ Präparation in Mikro-Zellulosekapillaren [Carbocell, Eigenentwicklung]  
  • Negativkontrastierung  
  • Immunmarkierung 

Datenverarbeitung/Analyse  

  • quantitative Analysen [ImageJ, NIS-Elements, Imaris]  
  • Dekonvolution [Autodeblur, NIS Elements, Zeiss AIM]  
  • 3D Rekonstruktion [Imaris, Amira]  
  • Stereoskopie [ImageJ, Eigenentwicklungen]  
  • Animationen [Cinema4D]  
Mikroskopische Aufnahmen

Kontakt

Dr. Rudolph Reimer

Leiter der Technologieplattform Mikroskopie und Bildanalyse / Elektronenmikroskopie

Telefon: +49 (0)40 48051-254

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Dr. Roland Thünauer

Leiter der Technologieplattform Mikroskopie und Bildanalyse / Lichtmikroskopie

Telefon: 040 48051-273

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Dr. Christian Conze

Leiter der Technologieplattform Mikroskopie und Bildanalyse / Lichtmikroskopie

Telefon: +49 (0)40 48051-273

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Prof. Dr. Kay Grünewald

Abteilungsleiter

Telefon: +49 (0)40 8998-87700

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